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當前位置:首頁產品中心三維X射線顯微鏡(XRM)D8雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測
產品簡介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測。

產品型號:
更新時間:2024-09-12
廠商性質:代理商
訪問量:2512
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雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

項目

細則

收費

說明

室溫測試

整套數據3h以內;一般要求警惕尺寸大于50μm;整套數據 3h 以上,另需額 外收費 150 元/時

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1.長時間數據手機(大于5h)、復雜樣品等特殊測試,價格需面議

結構解析

解析結構;孿晶、復雜結 構、不對稱單元內非氫原 子個數大于 100 等價格面議 

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低溫耗材

低溫測試時使用液氮

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晶胞參數確定

室溫測定

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晶向確定

室溫測定

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粉末衍射

室溫測定單一譜圖,每樣 每次長掃描 15min,延 長時間按 50 元/15min(校 外按 100 元/15min)計, 不足 15min 按 15min 計

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廣角散射

每 樣 每 次 長 掃 描 15min,延長時間按 50 元 /15min(校外按 100 元 /15min)計,不足 15min 按 15min 計

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雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司向大家提供保證!
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。 

 

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